HP9000 LED芯片光色电参数综合测试仪由LED光色电特性分析系统和LED芯片测试平台组成。芯片测量平台由样品台、三维探针架、光强测量支架、显微镜和电路控制盒灯部分构成，光强测量选用CIE-A条件，光纤耦合，能够快速平稳地点亮各种LED芯片，配合光谱测试系统即可测量芯片的各种光色电参数。具有测量参数分档显示功能，方便与各种分光分色测试机配套。